Физико-статистические модели надежности неоднородных изделий

Физически обосновано формирование неоднородных распределений, соответствующих нормированной сумме нормальных и логарифмически-нормальных законов распределения времен отказов изделий твердотельной электроники (ТТЭ) с диффузионным механизмом деградации под влиянием неоднородности их материала по одной из двух его критериальных физических характеристик при условии, что вторая характеристика распределена нормально.